Mineraloji-I (Kristalografi-Kristalkimya)
Kristalografi mineralojinin bir alt bölümü olup, özellikle kristal geometrisi, kristal fiziği ve kristal kimyası konularını kapsar (Evans, 1976; Ramdohr ve Strunz, 1978).
Mineraloji-II (Sistematik Mineraloji)
Yerkabuğunun çeşitli minerallerini, kimyasal yapılarına göre sınıflayarak (elementler, sulfitler, oksitler vs.) onların belirgin fiziksel, kimyasal, morfolojik ve yapısal özellikleri ile bulunduğu ortamlar ve kullanım alanlarını inceler.Minerallerin ayrıntılı şekilde incelenmesi için belli kurallar çerçevesinde sınırlandırılması gerekir. Minerallerin gruplandırılmasında 19.yüzyılın ortalarından beri kimyasal bileşim kullanılmaktadır. Bu sınıflama ile minerallerin yapısınıoluşturan anyon ve anyonik gruplara göre mineraller alt bölümlere ayrılmaktadır (Elementler, sulfitler, oksitler, halojenler, sulfatlar, karbonatlar,nitratlar, boratlar, fosfatlar, tungsten, vanadatlar, kromatlar molibdatlar ve silikatlar (Ramdohr ve Strunz, 1978; R; Yeniyol, 2009;Çizelge 1.1).
Optik Mineraloji
Işığı geçiren (şeffaf) mineral ve kayaçların 0.03 mm. kalınlığında inceltilerek lam-lamel arasına kanadabalsam ile yapıştırılmak suretiyle hazırlanan ince kesitlerin, polarizan mikroskop altında incelenmesi esasına dayanır (Müller ve Raith, 1988).
1.3.4 Cevher Mikroskopisi
Işığı geçirmeyen opak (cevher) minerallerin, bir yüzünün önce kaba sonra ince aşındırma, daha sonra ince parlatma ile hazırlanan parlak kesitlerin, polarizan mikroskoplara takılan ilave bir parça yardımı ile (opak ilminatör) üstten aydınlatmalı cevher mikroskopları ile inceleme yöntemidir. Bu yöntemle cevher minerallerinin refleksiyon rengi, refleksiyon şiddeti, refleksiyon pleokroizması, iç yansıma ve sertlik gibi özellikler belirlenmektedir (Ramdohr, 1975).
Uygulamalı Mineraloji
Cam sanayi, çimento sanayi, gazbeton, seramik ve refrakter tuğla imalatları ve teknolojisi ile bunların hammaddelerinin incelemelerini kapsamaktadır. Ayrıca, Ağır Mineral Analiz Yöntemleri ve Mikro Analiz Test Yöntemleri gibi dersler de uygulamalı mineraloji kapsamında sunulmaktadır.
Mineral Tanımlama Yöntemleri (X-RAY, SEM, Mikroprop, DTA-TG, IR, Optik ve Gemoloji)
Sadece kimyasal bileşimlerin ve optik yöntemlerle mineralleri tanımak bazen yeterli olmamakta, x-ray, mikroprop ve SEM (taramalı elektron mikroskobu) kullanılmaktadır. Bu tekniklerle minerallerin tanınması, kristal sınıfı, birim hücre parametreleri vs. belirlenebilmektedir. Ayrıca, minerallerin ayrıntılı incelenmelerinde (örneğin kil mineralleri) DTA-TG, IR-Spektrometresi incelemeleri de kullanılmaktadır(Philipsborn, 1967; Ramdohr ve Strunz, 1978; Krischner, 1974; Börner, 1980; Cullity,1996)
Mineraloji-I (Kristalografi-Kristalkimya)
Kristalografi mineralojinin bir alt bölümü olup, özellikle kristal geometrisi, kristal fiziği ve kristal kimyası konularını kapsar (Evans, 1976; Ramdohr ve Strunz, 1978).
Mineraloji-II (Sistematik Mineraloji)
Yerkabuğunun çeşitli minerallerini, kimyasal yapılarına göre sınıflayarak (elementler, sulfitler, oksitler vs.) onların belirgin fiziksel, kimyasal, morfolojik ve yapısal özellikleri ile bulunduğu ortamlar ve kullanım alanlarını inceler.Minerallerin ayrıntılı şekilde incelenmesi için belli kurallar çerçevesinde sınırlandırılması gerekir. Minerallerin gruplandırılmasında 19.yüzyılın ortalarından beri kimyasal bileşim kullanılmaktadır. Bu sınıflama ile minerallerin yapısınıoluşturan anyon ve anyonik gruplara göre mineraller alt bölümlere ayrılmaktadır (Elementler, sulfitler, oksitler, halojenler, sulfatlar, karbonatlar,nitratlar, boratlar, fosfatlar, tungsten, vanadatlar, kromatlar molibdatlar ve silikatlar (Ramdohr ve Strunz, 1978; R; Yeniyol, 2009;Çizelge 1.1).
Optik Mineraloji
Işığı geçiren (şeffaf) mineral ve kayaçların 0.03 mm. kalınlığında inceltilerek lam-lamel arasına kanadabalsam ile yapıştırılmak suretiyle hazırlanan ince kesitlerin, polarizan mikroskop altında incelenmesi esasına dayanır (Müller ve Raith, 1988).
1.3.4 Cevher Mikroskopisi
Işığı geçirmeyen opak (cevher) minerallerin, bir yüzünün önce kaba sonra ince aşındırma, daha sonra ince parlatma ile hazırlanan parlak kesitlerin, polarizan mikroskoplara takılan ilave bir parça yardımı ile (opak ilminatör) üstten aydınlatmalı cevher mikroskopları ile inceleme yöntemidir. Bu yöntemle cevher minerallerinin refleksiyon rengi, refleksiyon şiddeti, refleksiyon pleokroizması, iç yansıma ve sertlik gibi özellikler belirlenmektedir (Ramdohr, 1975).
Uygulamalı Mineraloji
Cam sanayi, çimento sanayi, gazbeton, seramik ve refrakter tuğla imalatları ve teknolojisi ile bunların hammaddelerinin incelemelerini kapsamaktadır. Ayrıca, Ağır Mineral Analiz Yöntemleri ve Mikro Analiz Test Yöntemleri gibi dersler de uygulamalı mineraloji kapsamında sunulmaktadır.
Mineral Tanımlama Yöntemleri (X-RAY, SEM, Mikroprop, DTA-TG, IR, Optik ve Gemoloji)
Sadece kimyasal bileşimlerin ve optik yöntemlerle mineralleri tanımak bazen yeterli olmamakta, x-ray, mikroprop ve SEM (taramalı elektron mikroskobu) kullanılmaktadır. Bu tekniklerle minerallerin tanınması, kristal sınıfı, birim hücre parametreleri vs. belirlenebilmektedir. Ayrıca, minerallerin ayrıntılı incelenmelerinde (örneğin kil mineralleri) DTA-TG, IR-Spektrometresi incelemeleri de kullanılmaktadır(Philipsborn, 1967; Ramdohr ve Strunz, 1978; Krischner, 1974; Börner, 1980; Cullity,1996)